半導體及集成電路行業(yè)
SEMICONDUCTOR AND INTEGRATED CIRCUIT INDUSTRY
高分辨率晶圓檢測方案
晶圓（Wafer）是指硅半導體集成電路制作所用的硅晶片，其形狀為圓形，所以稱為晶圓（Wafer）。在硅晶片上可加工制作成各種電路元件結構，而成為有特定電性功能的集成電路產品。
在晶圓（Wafer）的檢測中，通常需要高速檢測，對分辨率要求也較高，對機器視覺硬件也有高要求，鏡頭需要通光量大，光源需要亮度高。
解決方案：
解析5um
相機： Dasla 16k 5um
鏡頭：DTCA24K-75-AL
光源：紅色線光
在晶圓（Wafer）的檢測中，通常需要高速檢測，對分辨率要求也較高，對機器視覺硬件也有高要求，鏡頭需要通光量大，光源需要亮度高。
解決方案：
解析5um
相機： Dasla 16k 5um
鏡頭：DTCA24K-75-AL
光源：紅色線光
檢測目標
? Wafer要求高分辨率及對通光量要求極高
? 匹配16K 5um/ 24k 3.5um相機
? 解析5um
? 高速運動，相機曝光時間極短，對鏡頭和光源要求高
視覺配置
